Измеритель толщины покрытия XRF

Измеритель толщины покрытия XRF

Флуоресцентный толщиномер XDL210 в основном используется для неразрушающего контроля различных толщин металлических покрытий, таких как цинкование железа, хромирование железа, цинкование меди, никелирование меди, покрытие медью золотом и т. Д. В отраслях обработки драгоценных металлов и ювелирных изделий, банках, продажа ювелирных изделий и сторонние испытательные учреждения, а также гальваническая промышленность. Тестирование опасных для окружающей среды веществ RoHS, обнаружение и анализ содержания галогенов, обнаружение золота, платины, серебра и других драгоценных металлов и различных ювелирных изделий, измерение толщины металлического покрытия, определение состава гальванического покрытия и содержания покрытия.

Диапазон элементного анализа: от серы (S) до урана (U). Одновременно можно анализировать более 3 слоев покрытия; Предел обнаружения анализа толщины покрытия может достигать 0,01 мкм.

Толщина анализа обычно составляет от 0,1 мкм до 50 мкм (в зависимости от материала).

Повторяемость многократных измерений может достигать 0,1 мкм (для самого внешнего покрытия менее 1 мкм); Долгосрочная рабочая стабильность составляет 0,0 мкм (для самого внешнего покрытия менее 1 мкм); Оснащен коллиматором с малым отверстием, а тестовое пятно находится в пределах 0,1 мм.

Энергетическое разрешение детектора составляет 145 ± 5 эВ.

Он применяется для измерения толщины металлических гальванопокрытий, таких как Zn/Fe, Ni/Fe, Ni/Cu, Sn/Cu, Ag/Cu, Ni/Cu/Fe, Au/Ni/Cu и т. д.